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ICPエッチング装置によるSiC MOSFETのトレンチゲート加工。側面が平滑で、サブトレンチレスのラウンド形状を実現した。・深さ:2 μm・レート:450 nm/min以上・SiC/SiO₂選択比:5以上・Φ6インチ面内均一性:±3%以下
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RIE-800iP
RIE-800iPC
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