ICPエッチング装置 RIE-400iPC
GaN, GaAs, InP, & SiC
概要
本装置は放電形式に誘導結合プラズマ(Inductively Coupled Plasma: ICP)を採用したカセット式高密度プラズマエッチング装置です。最大4インチウエハーに対応しており、GaN、GaAs、InP、SiC、誘電体、金属など様々な材料の高精度、高均一加工が可能です。
特長
- ICPソースに「HSTC™: Hyper Symmetrical Tornado Coil」を採用し、高RFパワー(2 kW以上)を効率よく安定して印加可能。
- ESC(静電チャック)とHeによりウエハーの安定した温度制御が可能。
- 反応室直結の排気システムを採用することで、小流量・低圧力域から大流量・高圧力域の幅広いプロセスウィンドウを実現。
- 2、3、4インチウエハーの直接搬送枚葉処理が可能。
- 発光分光型または干渉型のエンドポイントモニターによる終点検出が可能。
応用例
- InPのリッジ加工
- InPのグレーティング加工
- GaAs VCSELのメサ加工
- GaN/AlGaNの高選択比加工
- GaNのリセス加工
- 縦型GaNパワーデバイスのトレンチ加工
- SiC MOSFETのトレンチ加工
- SiO2、SiNの加工
- Al、Cr、Niなど金属の加工
オプション
- 干渉型エンドポイントモニター
- 発光分光型エンドポイントモニター